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LED芯片及产品检测服务
周 期:7个工作日
地 点:海淀区
价 格:500/小时
该模块涉及LED芯片及产品相关的检测,包括衬底、外延片、芯片及产品方面的检测、评估及失效分析,运营多种分析设备对LED进行jiance
服务描述

1. 材料与芯片检测

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2. 产品性能检测

1) 电特性:正向电流、正向电压、反向电流以及反向电压等

2) 光特性:总光通量和发光效率,光强和光强分布,光谱参数(峰值波长、光谱功率分布、功率、功率因素,颜色特性(相关色温、色品坐标、显色指数、主波长)

3) 热特性:热阻和结温等。

3. 实验室资质:CNAS资质证书,CMA资质证书,ISO资质证书等

 

4. 服务方式

1) 标准检测及认证服务:可根据GB/T24824-2009、SJ/T 11394-2009等国家标准提供检测和认证服务。

2) 根据客户需求,提供定制化检测服务。

 

5. 主要仪器设备:

序号

仪器名称

型号

主要功能

关键技术指标

1

LED光电综合测试系统

Labsphere/CSLMS-2021

LED器件光学及色度学参数,如光功率、光通量、色温、显色指数,空间光强分布等的测试分析

大型积分球直径,20英寸;

波长准确度:<+/- 0.4 nm;

波长范围:350-1050 nm;

测试速度:0.1 scan/秒;

LED角度光谱辐射计:水平角:-90至90度,水平角度解析度:0.1度,轴向角:0至360度,轴向角解析度:0.1度。

2

热特性测试设备


应用于热特性测试,热管和热沉热特性测试, Die Attach 热特性测试,LED光热协同测量系统,能够与热特性测试仪协同光热测量,有助于半导体光电器件的失效分析研究。

温控范围覆盖+5℃~+90℃;

温度控制精度0.2℃;

功率开关速度: 1微秒。

3

LED照明产品光电热综合测试

IllumiaRpro 500-195

在温度控制、监测情况下的LED模块及照明应用产品的电、光、色、热学特性。

1.95米积分球;

温度监控范围:10-85℃;

符合LM-79

4

半导体参数测试仪

Keithley4200

应用LED等半导体器件C-V/I-V特性分析

SMU的分辨率扩展至0.1fA;

脉冲I-V能力用于先进半导体测试;

集成的示波器和脉冲测量功能。

5

近场光学测试设备

SIG-400

芯片和封装产品的发光均匀度分析;

封装产品的失效分析(色差方向);

光源产品不同角度的光色参数;

芯片及封装产品的寿命评估;

量测功能:亮度、光强度、颜色、相关色温、CIEx,y、u',v'、△E;

自动位采集控制,实时影像,屏幕录像播放,灰阶与色彩显示;

分辨率:512×512像素;

标准视场(mm):2,4,7,12,25,50;

颜色测量:符合CIE 1931的XYZ滤镜

操作空间:70cm×127cm;

极角:0 to 360°;

方位角:0 to 180°。

6

分布光度计

远方GO-2000

灯具利用系数、空间光强分布、空间颜色分布、灯具概算曲线、总光通量、发光效率、环带光通量、中心光强、赔光曲线、光束角、UGR炫光、照度距离图标、光强数据表、上射光通比、下射光通比、距高比、中心光强、峰值光强、功率因数等。

被测灯具可绕垂直轴和水平轴转动,转动范围:±180°, 角度精度:最高0.05°;

光度探头:CLASS L(f1'≤1.5%)或 CLASS A(f1'≤3%)、精密恒温、前置放大型;

光度测量范围:0.0001lx-200klx;

灯具安装带激光对准,精度高,被测灯具波动自动补偿功能,测试结果可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据,符合CIE、IESNA等国际国内标准要求。

7

显微热分布测试仪

FLIR T600

芯片电极设计、芯片来料检验、失效分析、灯具灯珠芯片升温热分布动态采集、功率器件发热点监测。

配备20um的微距镜,可用于观察芯片微米级别的红外热分布;

视频录制支持老化测试等长期实时在线监测;

-20℃~650℃宽温度量程,测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃,红外分辨率640x480;

实时温度显示和分析功能,可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据

8

显微光分布测试仪

近场光学测试设备SIG-400

LED芯片的光强分布均匀性的量测,可用于LED芯片电极设计、LED芯片规格电流优化、LED芯片来料检验、LED芯片失效分析、面板灯发光均匀度、汽车照明灯发光均匀度、灯具发光均匀度。

1.可测试190 nm~1100 nm范围内的光源,其中即包含了紫外和红外不可见光的测试。

2. 高速度、高分辨率显示2D和3D伪彩色光束轮廓

3 可利用高级校正算法对光束轮廓的数值分析

4. 可进行1D 、2D光束ISO及拓展的高斯拟合能力5. 

5. 提供行业内标准数据文件格式:HDF5及CSV

9

高分辨X射线衍射仪(HRXRD)

Bede D1

适用于半导体外延片材料的测试,Si、GaAs、InP、GaN、Sapphire等的,theta-2theta扫描,联动扫描,摇摆曲线,phi扫描,RSM,mapping

1.范围与分辨率:

2Theta:-100-130度,0.00005度;omega:-45-210度,0.00005度;

Chi:-20-90度,0.003度;

phi:>正负360度,0.004度

2. X光管模式下的高分辨光束调节器,角发散度最小可达5″

3. 高分辨三轴衍射的探测台,双通道分析晶体(DCA),最高分辨率可达5″

4. 配件:高温台:温度范围为室温至1100 ℃。

10

原子力显微镜(AFM)

Veeco D3100

可以对物体表面进行多种分析测量,如三维轮廓形貌、粗糙度、表面粘性、粒度、颗粒分布等。测试需要,仪器垂直台阶误差小于5%;水平方向误差小于10%。

横向分辨率:0.1nm;

纵向分辨率:0.05nm;

样品台: 4寸

11

光致发光谱(PL)

SP-2500i型

FLS920型荧光光谱仪

FLS920型可用于各种固体、液体样品的激发光谱、发射光谱、荧光寿命、同步荧光、偏振荧光和低温荧光测定;

可进行时间分辨PL。

光谱仪探测范围:(光电倍增管,190~870nm;Ge探测器,800~1700nm);

荧光寿命测量范围:100ps~10s; 信噪比:6000:1(水峰 Raman);

可以配用制冷系统,为样品提供变温环境,液氮系统(77K~320K);

使用Glan棱镜,控制激发光路、发射光路的偏振状态;

使用450W氙灯和纳秒、微秒脉冲闪光灯做激发光源;

12

拉曼光谱仪(Raman)

Renishaw inVia Plus

  可测量325nm、514nm和785nm激发的发光光谱,适用于各种材料的室温和高温拉曼光谱测量,通过拉曼光谱分析材料的分子结构、晶体结构、结构相变、应力等

光谱分辨率:1~2 cm-1 

光谱测量范围:200~1050nm 

激光波长:514、633、785nm 

光谱重复性:≤±0.2 cm-1。 

空间分辨率:在×100倍镜头下,横向分辨率<0.5 μm,光轴方向纵向分辨率<2 μm。






 

6. LED光电热性能检测实验室主要仪器照片

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     LED光电综合测试系统                热特性测试设备     


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     LED照明产品光电热综合测试                 半导体参数测试仪


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         近场光学测试设备                            LED灯具分布光度计



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        LED芯片显微光分布测试仪                LED芯片显微分布测试仪

 

 

7. 服务类别及报价详情

 

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